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Cartão de sonda MEMS

Os cartões de sonda MEMS (sistemas microeletromecânicos) desempenham um papel fundamental nos testes modernos de semicondutores, fornecendo contatos de teste precisos por meio de sistemas eletromecânicos miniaturizados para garantir uma avaliação precisa do desempenho do chip. Nossos cartões de sonda MEMS combinam tecnologia avançada de micro-nano-usinagem com design elétrico de precisão para fornecer soluções altamente confiáveis ​​e precisas para uma ampla gama de necessidades de testes de chips.

Cartões de sonda MEMS avançados para testes de wafer

Cartão de sonda MEMS para teste de wafer CIS

Nosso cartão de sonda MEMS para teste de wafer CIS (sensor de imagem CMOS) emprega tecnologia MEMS 2D avançada para testar produtos CIS. Milhares de sondas MEMS são soldadas a laser a um substrato cerâmico, proporcionando distribuição excepcional de sonda de alta densidade com intervenção manual mínima.

Placa de sonda MEMS para teste de wafer DRAM

Nossa placa de sonda MEMS para teste de wafer DRAM, otimizada com tecnologia MEMSFLEX, atende às demandas de teste desses novos dispositivos DRAM de alto desempenho e alta densidade. Ele aumenta a eficiência e reduz o custo geral dos testes de DRAM, garantindo um desempenho confiável na avaliação dos mais recentes avanços na tecnologia de memória.

Recursos do cartão de sonda MEMS

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